SPC高級(jí)應(yīng)用

SPC高級(jí)應(yīng)用

SPC高級(jí)應(yīng)用 課程大綱
課程簡介：
本課程聚集于五個(gè)部分：常規(guī)控制圖的探討和加深（第一部分）、應(yīng)用擴(kuò)展（第二~四部分），以及綜合練習(xí)和答疑（第六部分）。
適用的范圍：
本課程中介紹的控制圖和能力分析適用于所有的制造過程。
在基本的SPC培訓(xùn)（1~2天）中，學(xué)員主要學(xué)習(xí)的是SPC的基本概念，數(shù)據(jù)符合常規(guī)控制圖條件的情況。在這種情況下實(shí)踐，會(huì)遇到下列問題：
實(shí)踐中只要與課堂上講的稍有出入，就不能規(guī)范使用SPC。這是由于SPC涉及的統(tǒng)計(jì)理論和SPC本身的理論知識(shí)深度不夠所致！
控制圖不能起到有效的預(yù)防不合格的作用！這可能是由于實(shí)踐中往往有大量的情況不符合常規(guī)控制圖的條件，例如：數(shù)據(jù)非正態(tài)、自相關(guān)、一腔/模多穴等等。這需要使用另外的方法來做！
當(dāng)一個(gè)零件的多個(gè)特性相互關(guān)聯(lián)、相互影響，分別做單個(gè)特性的控制圖就不能夠準(zhǔn)確反映實(shí)際的變異情況了。
本課程涵蓋了眾多SPC的應(yīng)用實(shí)踐中出現(xiàn)的錯(cuò)誤和誤區(qū)，以及特殊情況，同時(shí)具有廣度、深度和實(shí)用性！還有大量的模擬真實(shí)應(yīng)用環(huán)境的綜合練習(xí)和現(xiàn)場答疑（長達(dá)3~4個(gè)小時(shí)）！
適合學(xué)習(xí)本課程的學(xué)員：
已經(jīng)有一定的SPC基礎(chǔ)（理論與實(shí)踐）的學(xué)員，學(xué)員需要有基本的統(tǒng)計(jì)學(xué)理論基礎(chǔ)。
本課程的課時(shí)：3天
課程大綱：
第一部分：常規(guī)控制圖的理論探討和加深（7小時(shí)）
常規(guī)控制圖所涉及的統(tǒng)計(jì)理論和使用條件
SPC所涉及的統(tǒng)計(jì)理論
中心極限定理在控制圖中的應(yīng)用
正態(tài)性及其檢驗(yàn)方法
獨(dú)立性及其檢驗(yàn)方法
隨機(jī)性及其檢驗(yàn)方法
假設(shè)檢驗(yàn)的理論在控制圖中的體現(xiàn)
如何在控制圖上來判斷常規(guī)隨機(jī)性、獨(dú)立性和正態(tài)性
在建立控制圖時(shí)容易忽略的方面
下列各項(xiàng)做得不充分時(shí)會(huì)發(fā)生什么情況？
相應(yīng)的資源
專門的人員
工作流程（程序）
數(shù)據(jù)采集、上傳、分析和報(bào)警
反饋機(jī)制的建立
所要控制的特性
定義使用SPC的過程和特性
特性數(shù)據(jù)是通過破壞性檢測獲得，應(yīng)當(dāng)怎么做？
使不必要的變差最小化（已知、顯著且可永久性糾正的，不必使用控制圖來識(shí)別的變差）
確認(rèn)測量系統(tǒng)的能力是足夠的，測量系統(tǒng)的分辨力不足夠時(shí)在控制圖上如何判斷
控制圖的建立流程及易犯的錯(cuò)誤
對于控制圖與CPK/PPK的先后順序的考慮
子組定義和抽樣方案及常見誤區(qū)
子組容量與探測靈敏度的探討及其應(yīng)用
抽樣頻率
多生產(chǎn)流的抽樣
實(shí)時(shí)或100%檢測時(shí)，如何抽樣？
控制限的建立
需要的子組的個(gè)數(shù)和數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)（為什么通常需要至少25個(gè)子組，且100個(gè)數(shù)據(jù)）
關(guān)于控制限標(biāo)準(zhǔn)差的個(gè)數(shù)與第I、II類錯(cuò)誤的概率（誤判率）
控制限與控制圖的靈敏度
均值-極差/標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中為什么需要先判斷極差/標(biāo)準(zhǔn)差圖
過程控制解釋（判異準(zhǔn)則）
當(dāng)控制圖出現(xiàn)失控趨勢時(shí)的處理步驟
典型的和非典型的失控趨勢
受控與能力–如何評(píng)價(jià)分析用控制圖可以用于在線控制
在線控制圖
在線控制圖的失控判斷準(zhǔn)則與分析用控制圖有什么不同
常見的在線控制圖使用誤區(qū)
在線用控制圖更新
什么情況下需要更新
更新時(shí)需要改變控制圖的哪些地方
不同等級(jí)的失控的不同處理方式
分析失控原因及制定遏制措施的途徑：
失控類型 + 數(shù)據(jù)點(diǎn)日志 + 控制圖靈敏度 + 過程專業(yè)知識(shí)
演示與練習(xí)：均值-極差圖的制作、分析及遏制措施
I-MR單值-移動(dòng)極差圖
使用條件及使用I-MR的典型制造過程
極差長度的概念及長度的選擇（案例演示與練習(xí)）
常規(guī)控制圖存在的局限性分析
第二部分：特殊控制圖（2小時(shí)）
Z-MR（標(biāo)準(zhǔn)化單值圖，適用于多品種小批量產(chǎn)品過程的控制）
時(shí)間加權(quán)控制圖 -適用于均值變化微小的情況
EWMA時(shí)間加權(quán)移動(dòng)平均控制圖
CUSUM累積和控制圖
第三部分：非常規(guī)條件下的控制圖和過程能力分析（7小時(shí)）
有哪些過程的特性構(gòu)成非正態(tài)分布？它們構(gòu)成的分布是什么？
有哪些典型過程特性構(gòu)成屬于非獨(dú)立的規(guī)律？
非正態(tài)數(shù)據(jù)的控制圖
常規(guī)控制圖對數(shù)據(jù)分布的正態(tài)性的要求
數(shù)據(jù)非正態(tài)時(shí)的分析 - 為什么是非正態(tài)的？
個(gè)體分布標(biāo)識(shí)-利用具體的分布的參數(shù)制作控制圖
將非正態(tài)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為正態(tài)后制作控制圖
非參數(shù)方法 - 正態(tài)性轉(zhuǎn)換后仍然不正態(tài)的情況
非單一變異源數(shù)據(jù)（不符合隨機(jī)性條件）的控制圖
對非單一變差源的理解
I-MR-R/S控制圖
自相關(guān)（非獨(dú)立）數(shù)據(jù)的控制圖 – 基于AR模型的殘差控制圖
非常規(guī)條件下的過程能力分析
組間和組內(nèi)過程能力分析
非正態(tài)數(shù)據(jù)的過程能力分析
第四部分：多變量正態(tài)控制圖和過程能力分析（2小時(shí)）
概述
T方控制圖
廣義方差控制圖
多變量EWMA控制圖
多變量分布的過程能力
第五部分：控制圖和過程能力分析綜合練習(xí)與現(xiàn)場答疑（3小時(shí)）